ISO 17650 Détermination de la teneur en éléments métalliques dans l'acier par ICP

2026-02-03

Cible de détection

Dosage du silicium, du manganèse, du phosphore, du chrome, du molybdène, du nickel et du cuivre dans l'acier

Aperçu

Cette solution est conforme à la norme ISO 17650 « Aciers faiblement alliés — Dosage de Mn, P, Cr, Ni, Mo, Co, Cu, V, Ti, As et Sn — Méthode par spectrométrie d'émission optique à plasma inductif ». Cette norme spécifie une méthode de dosage de Mn, P, Cr, Ni, Mo, Co, Cu, V, Ti, As et Sn dans les aciers faiblement alliés par spectrométrie d'émission optique à plasma inductif (ICP-OES).

Appareil

HKL-17650 ICP pour la détermination de la teneur en éléments métalliques dans l'acier

Paramètres techniques

  1. Générateur de radiofréquence

    1) Fréquence de fonctionnement : 27,12 MHz

    2) Stabilité de fréquence : < 0,05 %

    3) Puissance de sortie : 800 W – 1600 W

    4) Stabilité de la puissance de sortie : ≤0,05 %

    5) Mode de correspondance : Appariement automatique

  2. Spectromètre à balayage

    1) Trajet optique : type Czerny-Turner

    2) Distance focale : 1000 mm

    3) Spécifications du réseau : Réseau holographique gravé par ions, densité de traits : 3600 L/mm ou 2400 L/mm, surface graduée : (80 × 110) mm

    4) Dispersion linéaire réciproque : 0,26 nm/mm

    5) Résolution : ≤0,008 nm (avec un réseau de 3600 L/mm), ≤0,015 nm (avec un réseau de 2400 L/mm)

  3. Machine entière

    1) Plage de longueurs d'onde de balayage : 195 nm à 500 nm (avec un réseau de 3 600 L/mm), 195 nm à 800 nm (avec un réseau de 2 400 L/mm)

    2) Répétabilité : RSD ≤ 1,5 %

    3) Stabilité : RSD ≤ 2,0 %

Évaluation des éléments détectables


Échantillon

Éléments mesurés

Appareil

Aperçu de la préparation des échantillons

Remarques

Matériau métallique

Si, Mn, P, Cr, Mo, Ni, Cu

HKL-17650 ICP pour la détermination de la teneur en éléments métalliques dans l'acier

Peser environ 0,2 à 0,5 g d'échantillon, ajouter une certaine quantité d'acide nitrique et chauffer à basse température. Une fois la solution limpide, laisser refroidir à température ambiante et la transférer dans une fiole jaugée de 100 ml. Compléter à volume avec de l'eau et bien mélanger.

Des essais à blanc et des essais sur échantillons parallèles sont nécessaires pour une détermination précise de la teneur en Si.


Configuration


Unité principale et accessoires essentiels

En série

Nom

Spécification

Nombre

Remarques

1

Spectromètre à plasma à couplage inductif

HKL-17650 ICP pour la détermination de la teneur en éléments métalliques dans l'acier

1 ensemble


2

Refroidissement automatique du détecteur à température contrôlée


1 ensemble


3

Alimentation régulée en tension


1 ensemble


Facultatif

En série

Nom

Spécification

Nombre

Remarques

1

Unité centrale de l'ordinateur


1 ensemble


2

Écran d'ordinateur


1 ensemble


3

Imprimante


1 ensemble



Équipements et consommables pour le traitement des échantillons

En série

Nom

Spécification

Nombre

Remarques

1

Plaque chauffante à température contrôlée numériquement

EG-35B

1 ensemble


2

Balance analytique (précision de 0,1 mg)

BS224S

1 ensemble


3

Machine à eau ultra-pure

EPED-40T

1 ensemble


4

Gants en caoutchouc jetables

Taille M



5

masque à charbon actif




6

Pipettes Pasteur de 3 ml

3 ml



7

bécher en verre de 100 ml

100 ml



8

fiole jaugée en verre de 100 ml

100 ml



9

Micropipette de 5 ml

0,5 ml à 5 ​​ml

1 pièce


10

Micropipette de 1 ml

100 µl-1000 µl

1 pièce


11

Micropipette de 100 μl

10 µl-100 µl

1 pièce



Réactifs

En série

Nom

Spécification

Nombre

Remarques

1

Acide chlorhydrique

Réactif garanti



2

Acide nitrique

Réactif garanti



3

peroxyde d'hydrogène

Réactif garanti



4

Matériaux de référence standard pour éléments

1000 µg/ml




Obtenir le dernier prix ? Nous vous répondrons dans les plus brefs délais (sous 12 heures)